概要:
1臺儀器實現不同測量條件下的高速檢查
● 1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查
● LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
● 基本精度±0.08%的高精度測量
● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
● 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
● 可以用于無線充電評價系統TS2400
主機不標配治具。請根據您的需求選擇選件中的治具和探頭。
特點:
1.阻抗分析儀IM3570測量方式：壓電元件的共振特性的測量
LCR測試儀和阻抗分析儀合二為一的IM3570通過掃頻測量和峰值比較器功能對共振狀態進行合格判定，并在LCR模式想能通過1kHz或120Hz的LCR測量進行檢查。掃頻測量和LCR測量一臺儀器全部實現。
規格表:
